Розглянуто класичний метод визначення електронних температур t_3,O, t_2,O і t_2,N за забороненими лініями іонів O⁺⁺, O⁺ і N⁺. Досліджено вплив помилок в атомних даних на точність визначення електронних температур. Помилки атомних даних (ейнштейнівські коефіцієнти спонтанних переходів і ефективні перерізи для електронних ударів) визначено як розбіжності між значеннями, обчисленими в різних дослідженнях. Знайдено, що помилка електронної температури, зумовлена неточностями в атомних даних, збільшується зі збільшенням електронної температури. За температури 10000 K помилки електронних температур t_3,O, t_2,N, t_2,O не перевищують 1, 3 і 7 % відповідно.