Статистика кривих блиску віддаленого джерела, мікролінзованого системою точкових та протяжних мас

1Слюсар, ВМ, 1Жданов, ВІ, 1Александров, ОМ, 1Федорова, ОВ
1Астрономічна обсерваторія Київського національного університету імені Тараса Шевченка, Київ, Україна
Рубрика: Позагалактична астрономія
Мова: російська
Анотація: 

Розглянуто гравітаційне мікролінзування віддаленого джерела стохастичною системою точкових мас-зір і протяжних мас, що моделюють згустки темної матерії. Розміри кожного згустка вибиралися рівними 5 або 10 його радіусам Ейнштейна. Для кожного набору параметрів (оптична глибина мікролінзування, розмір згустка) згенеровано по 100 реалізацій поля коефіцієнтів підсилення, припускаючи просторово однорідний розподіл мікролінз з солпітерівським розподілом за масами. На цій основі розраховано автокореляційні функції кривих блиску для різного відносного внеску згустків у загальну оптичну глибину мікролінзування σtot = 0.3. Показано, що залежність поведінка автокореляційних функцій від оптичної глибини згустків має немонотонний характер.

Ключові слова: гравітаційне мікролінзування, система точкових мас-зір